GBT 2423.16-1999
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ID： |
BFC34188EDA24D82BCE9767681C600B9 |
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文件大小(MB)： |
0.81 |
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页数： |
16 |
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文件格式： |
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日期： |
2008-1-1 |
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购买： |
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GB/T 2423.16-1999,前 言,本标准等同采用国际标准I[C 68-2-10《基本环境试验规程 第2部分:试验方法 试验J和导则:,长霉》（1988年第五版）,本标准是对GB/T 2423. 16—1990《电工电子产品基本环境试验规程 试验J：长霉试验方法》和,GB/T 2424. 9—1990《电工电子产品基本环境试验规程 长霉试验导则》的修订,在GB/T 2423. 16—1990制定时，将IEC 68-2-10（1988年第五版）标准中的“附录F导则”作为另,一项国家标准GB/T 2424.9—1990《电工电子产品基本环境试验规程 长霉试验导则》,为完全等同采,用IEC国际标准，便于GB/T 2423.16标准的使用，本次修订将IEC 68-2-10标准中的“附录F导则”仍,作为本标准的附录F,GB/T 2424. 9-1990标准作废。同时为便于本标准在我国的使用，将GB/T 2423.,16-1990标准的附录F“试验菌号对照表”改为本标准表1的注,本标准从生效之日起，同时代替GB/T 2423. 16—1990与GB/T 2424. 9—1990,本标准的附录A、附录B、附录C、附录D、附录E和附录F都是标准的附录,本标准由中华人民共和国电子工业部提出,本标准由全国电工电子产品环境条件与环境试验标准化技术委员会归口,本标准起草单位:电子工业部第五研究所,本标准主要起草人:张铮、王忠,本标准于1981年首次发布，于1990年第一次修订，现为第二次修订,gb/t 2423.16-1999,IEC前言,1）国际电工委员会（IEC）关于技术问题的正式决议或协议，是由对该问题特别关切的国家委员会,代表参加的技术委员会制定的，它们尽可能地表达了国际上对该问题的一致意见,2）这些决议或协议以标准的形式供国际上使用，并在此意义上被各国家委员会所承认,3）为了促进国际上的统一,IEC希望所有国家委员会在其国内情况许可的范围内应采用IEC标准,的内容作为他们的国家规定。IEC标准与相应的国家规定之间存在的分歧,应尽可能在国家规定中明确,指出,IEC序言,本标准是由IEC第50技术委员会（环境试验）50B分会（气候试验）制定的,本标准第五版代替试验J：长霉的第四版（1984年）,本标准的内容是基于以下文件制定的：,关于本标准表决通过的详尽内容可从上表中的表决报告中查到,本月法文件表决报告,50B(CO)251 50B(CO)257,50B(CO)263 50B(CO)265,2,中华人民共和国国家标准,电工电子产品环境试验,第2部分:试验方法,试验J和导则:长霉,Environmental testing,for electric and electronic products一,Part 2： Test methods—Test J and guidance ： Mould growth,gb/t 2423.16-1999,idt IEC 68-2-10:1988,代替 GB/T 2423. 16—1990 和,GB/T 2424. 9—1990,1总则,1.1 本试验采用经选择的霉菌抱子在已装配的样品上接种,然后在促进抱子发芽和霉菌生长的条件下,培养一段时间的方法进行长霉试验,本试验给出两种不同的试验方法。试验方法1规定用霉菌抱子直接在样品上接种;试验方法2规定,用可支持霉菌生长的营养液预先处理样品后再在样品上接种,1.2 当已装配的样品必须暴露于空气的霉菌抱子中以及在气候条件有利于霉菌生长的地方工作时，本,试验程序可用以评定霉菌生长程度和（或）由此可能产生的性能劣化,1.3 建议使用其他已建立的真菌试验程序来评定所用结构材料因霉菌污染而导致的易受损性,并只使,用不受霉菌严重侵蚀的材料,1.4 本试验程序也适用于工作时不必暴露于霉菌抱子，但在贮存或运输时可能必须暂时暴露于霉菌抱,子的已装配样品,1.5 当已装配的样品在贮存、使用或运输时暴露于大气或装卸时无防护遮蔽，由灰尘、污迹、凝结的挥,发性营养物或油脂形成的表面污染可能会沉积在样品上。这种表面污染会导致霉菌植入的增加,并可引,起更多的霉菌生长和损害。这种污染的影响可用试验方法2来评定,1.6 若已装配的样品被防护而不暴露于霉菌抱子，则即使在霉菌抱子丰富的地方工作,样品需经受起,本试验严格程序的能力也是不必要的,1.7 由于在一个很大的试验箱内难于保持必需的试验条件,大型组合设备通常用一些分组件来进行试,验。总之，这将使试验费用缩减到最小,因为几个分组件可能在结构上如此相似以致仅需试验其中之一,丒即^,2对操作者健康的危害,2.1 本试验程序要求使用活的霉菌抱子和提供促进霉菌生长的环境条件,2.2 在开始接触霉菌菌种或按下述试验步骤进行试验前,操作者首先应学习本标准的附录,参阅：附录A——对操作人员的危害,附录B——接种方法,附录C——推荐的安全预防措施,附录D——去污染的方法,国家质量技术监督局1999-09-13批准 2000-06-01实施,3,gb/t 2423.16-1999,3目的,无论已装配的样品是否由抗霉材料构成,本试验的目的在于通过有关规范已明确严酷等级的试验,方法1和（或）试验方法2来查找已装配样品未预见的劣化原因,a）试验方法1：培养28 d后评定霉菌生长程度和由此产生的任何物理损害;如有关规范有要求，则,在培养时间延长到84 d后检查对样品性能的影响,b）试验方法2：先用营养液对样品进行预处理，培养28 d后评定霉菌生长程度和由此产生的任何,物理损害，并检查对样品性能的影响,有关规范应明确……
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